IDENTIFIKASI KLON-KLON KARET BERDASARKAN VARIASI KARAKTERISTIK DAUN
Teks penuh
Gambar
Dokumen terkait
Pada tahun I (2003) dilakukan optimasi untuk keseluruhan metode yang digunakan serta konstruksi pustaka cDNA dari daun karet klon resisten AVROS 2037.. Pustaka cDNA
Hasil penelitian menunjukkan bahwa parameter tinggi tanaman, jumlah daun, panjang daun dan lebar daun tidak berbeda nyata antar perlakuan komposisi pupuk daun, tetapi parameter
Hasil pengamatan secara visual di lapangan menunjukkan bahwa klon IRR Seri 300 memiliki tingkat resistensi yang lebih baik terhadap serangan penyakit gugur daun
Dari seluruh klon IRR seri 100 yang diuji, IRR 100 dan IRR 104 memiliki ketahanan yang baik terhadap ketiga patogen penyebab penyakit gugur daun pada karet dengan tingkat resistensi
Dari seluruh klon IRR seri 100 yang diuji, IRR 100 dan IRR 104 memiliki ketahanan yang baik terhadap ketiga patogen penyebab penyakit gugur daun pada karet dengan
Terjadinya pergeseran ketahanan ini, telah dibuktikan oleh kenyataan dengan klon RRIM yang pada tahun 80-an merupakan klon yang tahan terhadap patogen tersebut kini telah menjadi
HASIL DAN PEMBAHASAN Evaluasi ketahanan 290 progeni F1 hasil persilangan klon PB 260 x RRIC 100 dan RRIC 100 x PB 260 terhadap penyakit gugur daun Pestalotiopsis, Corynespora,
Hasil analisis uji T menunjukkan bahwa hampir semua faktor cuaca berpengaruh terhadap keparahan penyakit gugur daun dari 5 klon karet yang diamati di lapangan, kecuali faktor suhu yang
